Измерительная ячейка для исследования СВЧ-свойств дельта-легированных алмазных образцов
Аннотация
Об авторах
В. В. ВитькоРоссия
А. В. Кондрашов
Россия
А. А. Никитин
Россия
П. Ю. Белявский
Россия
А. Б. Устинов
Россия
Д. Э. Батлер
Россия
Список литературы
1. Diamond semiconductor technology for RF device applications / Y. Gurbuz, O. Esame, I. Tekin et al. //Solid-state electronics. 2005. Vol. 49, № 7. P. 1055-1070.
2. Blackham D. V., Pollard R. D. An improved technique for permittivity measurements using a coaxial probe // IEEE Trans. instrum. and meas. 1997. Vol. IM-46, № 5. P. 1093-1099.
3. Baker-Jarvis J. Transmission/reflection and short-circuit line permittivity measurements. Colorado: National institute of standards and technology, 1990. 151 p.
4. Domich P. D., Baker-Jarvis J., Geyer R. G. Optimization techniques for permittivity and permeability determination // J. res. nation. inst. stand. technol. 1991. Vol. 96, № 5. P. 565-575.
5. Nicolson A. M., Ross G. F. Measurement of the intrinsic properties of materials by time-domain techniques // IEEE Trans. instrum. and meas. 1970. Vol. IM-19, № 4. P. 377-382.
6. High carrier mobility in single-crystal plasma-deposited diamond / J. Isberg, J. Hammersberg, E. Johansson et al. // Science. 2002. Vol. 297, № 5587. P. 1670-1672.
7. Cohn S. B. Optimum design of stepped transmission-line transformers // IRE Trans. 1995. Vol. 3, № 4. P. 16-21.
Рецензия
Для цитирования:
Витько В.В., Кондрашов А.В., Никитин А.А., Белявский П.Ю., Устинов А.Б., Батлер Д.Э. Измерительная ячейка для исследования СВЧ-свойств дельта-легированных алмазных образцов. Известия высших учебных заведений России. Радиоэлектроника. 2015;(3):48-50.
For citation:
Vitko V.V., Kondrashov A.V., Nikitin A.A., Belyavskiy P.Y., Ustinov A.B., Butler J.E. Measuring cell for microwave properties studying of delta-doped diamond samples. Journal of the Russian Universities. Radioelectronics. 2015;(3):48-50. (In Russ.)