radioelectronicsИзвестия высших учебных заведений России. РадиоэлектроникаJournal of the Russian Universities. Radioelectronics1993-89852658-4794Saint Petersburg Electrotechnical Universityradioelectronics-35Research ArticleПРИБОРЫ И СИСТЕМЫ ИЗМЕРЕНИЯ НА ОСНОВЕ АКУСТИЧЕСКИХ, ОПТИЧЕСКИХ И РАДИОВОЛНMEASURING SYSTEMS AND INSTRUMENTS BASED ON ACOUSTIC, OPTICAL AND RADIO WAVESИзмерительная ячейка для исследования СВЧ-свойств дельта-легированных алмазных образцовMeasuring cell for microwave properties studying of delta-doped diamond samplesВитькоВ. В.VitkoV. V.vitaliy.vitko@gmail.comКондрашовА. В.KondrashovA. V.kondrashov_av@inbox.ruНикитинА. А.NikitinA. A.and.a.nikitin@gmail.comБелявскийП. Ю.BelyavskiyP. Y.pbeliavskiy@gmail.comУстиновА. Б.UstinovA. B.Ustinov_rus@yahoo.comБатлерД. Э.ButlerJ. E.jimbutler29@comcast.netСанкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ"РоссияSaint Petersburg state electrotechnical university "LETI"Russian FederationИнститут прикладной физики РАНРоссияInstitute of applied physics of the Russian academy of sciencesRussian Federation201528062015034850Copyright © Витько В.В., Кондрашов А.В., Никитин А.А., Белявский П.Ю., Устинов А.Б., Батлер Д.Э., 20152015Витько В.В., Кондрашов А.В., Никитин А.А., Белявский П.Ю., Устинов А.Б., Батлер Д.Э.Vitko V.V., Kondrashov A.V., Nikitin A.A., Belyavskiy P.Y., Ustinov A.B., Butler J.E.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://re.eltech.ru/jour/article/view/35

Предложен метод измерения СВЧ-параметров дельта-легированных алмазных образцов в широком диапазоне частот. В основе метода измерения лежит алгоритм Николсона-Росса. Проведено моделирование S-параметров измерительной ячейки на основе симметричной полосковой линии передачи.

The method of measurement of microwave parameter of delta-doped diamond samples over a broad frequency range is offered. Nicholson-Ross's algorithm is the cornerstone of a method of measurement. The simulation of S-parameters of the measuring cell based on symmetric stripline is carried out.

Дельта-легированный алмазсимметричная полосковая линияDelta-doped diamondsymmetric strip lineReferencesDiamond semiconductor technology for RF device applications / Y. Gurbuz, O. Esame, I. Tekin et al. //Solid-state electronics. 2005. Vol. 49, № 7. P. 1055-1070.Diamond semiconductor technology for RF device applications / Y. Gurbuz, O. Esame, I. Tekin et al. //Solid-state electronics. 2005. Vol. 49, № 7. P. 1055-1070.Blackham D. V., Pollard R. D. An improved technique for permittivity measurements using a coaxial probe // IEEE Trans. instrum. and meas. 1997. Vol. IM-46, № 5. P. 1093-1099.Blackham D. V., Pollard R. D. An improved technique for permittivity measurements using a coaxial probe // IEEE Trans. instrum. and meas. 1997. Vol. IM-46, № 5. P. 1093-1099.Baker-Jarvis J. Transmission/reflection and short-circuit line permittivity measurements. Colorado: National institute of standards and technology, 1990. 151 p.Baker-Jarvis J. Transmission/reflection and short-circuit line permittivity measurements. Colorado: National institute of standards and technology, 1990. 151 p.Domich P. D., Baker-Jarvis J., Geyer R. G. Optimization techniques for permittivity and permeability determination // J. res. nation. inst. stand. technol. 1991. Vol. 96, № 5. P. 565-575.Domich P. D., Baker-Jarvis J., Geyer R. G. Optimization techniques for permittivity and permeability determination // J. res. nation. inst. stand. technol. 1991. Vol. 96, № 5. P. 565-575.Nicolson A. M., Ross G. F. Measurement of the intrinsic properties of materials by time-domain techniques // IEEE Trans. instrum. and meas. 1970. Vol. IM-19, № 4. P. 377-382.Nicolson A. M., Ross G. F. Measurement of the intrinsic properties of materials by time-domain techniques // IEEE Trans. instrum. and meas. 1970. Vol. IM-19, № 4. P. 377-382.High carrier mobility in single-crystal plasma-deposited diamond / J. Isberg, J. Hammersberg, E. Johansson et al. // Science. 2002. Vol. 297, № 5587. P. 1670-1672.High carrier mobility in single-crystal plasma-deposited diamond / J. Isberg, J. Hammersberg, E. Johansson et al. // Science. 2002. Vol. 297, № 5587. P. 1670-1672.Cohn S. B. Optimum design of stepped transmission-line transformers // IRE Trans. 1995. Vol. 3, № 4. P. 16-21.Cohn S. B. Optimum design of stepped transmission-line transformers // IRE Trans. 1995. Vol. 3, № 4. P. 16-21.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.