Для цитирования:
Федотов С.Д., Тимошенков С.П., Соколов Е.М., Стаценко В.Н. Мониторинг структурного качества границы раздела "кремний-сапфир" методом поверхностной фотоЭДС. Известия высших учебных заведений России. Радиоэлектроника. 2017;(5):28-35.
For citation:
Fedotov S.D., Timoshenkov S.P., Sokolov E.M., Statsenko V.N. The Monitoring of Structural Quality of Silicon-Sapphire Interface by the Surface Photovoltage Method. Journal of the Russian Universities. Radioelectronics. 2017;(5):28-35. (In Russ.)
Послать статью по эл. почте 