Для цитирования:

Семенюк В.А., Комнатнов М.Е. Методика оценки помехоустойчивости микроконтроллеров к электромагнитному воздействию в ТЕМ-камере. Известия высших учебных заведений России. Радиоэлектроника. 2025;28(6):80-89. https://doi.org/10.32603/1993-8985-2025-28-6-80-89

For citation:

Semeniuk V.A., Komnatnov M.E. Methodology for Evaluating Microcontroller Susceptibility to Electromagnetic Influence in TEM Cell. Journal of the Russian Universities. Radioelectronics. 2025;28(6):80-89. (In Russ.) https://doi.org/10.32603/1993-8985-2025-28-6-80-89