<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">radioelectronics</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Известия высших учебных заведений России. Радиоэлектроника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Journal of the Russian Universities. Radioelectronics</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1993-8985</issn><issn pub-type="epub">2658-4794</issn><publisher><publisher-name>Saint Petersburg Electrotechnical University</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32603/1993-8985-2018-21-5-33-38</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">radioelectronics-257</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭЛЕКТРОДИНАМИКА, МИКРОВОЛНОВАЯ ТЕХНИКА, АНТЕННЫ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>ELECTRODYNAMICS, MICROWAVE ENGINEERING, ANTENNAS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>НОВЫЙ ВОЛНОВОДНЫЙ МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИКОВ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>NEW WAVEGUIDE METHOD FOR DIELECTRIC PARAMETER MEASUREMENT</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Григорьев</surname><given-names>А. Д.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Grigoriev</surname><given-names>Andrey D.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Григорьев Андрей Дмитриевич – доктор технических наук (1985), профессор (1989) кафедры радиотехнической электроники Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина). Автор более 150 научных работ, в том числе трех учебников и четырех монографий. Сфера научных интересов – электроника и техника СВЧ; вычислительная электродинамика.</p><p>ул. Профессора Попова, д. 5, Санкт-Петербург, 197376, Россия</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Andrey D. Grigoriev – D.Sc. in Engineering (1985), Professor (1989) of the Department of Radio Engineering Electronics of Saint Petersburg Electrotechnical University "LETI". The author of more than 150 scientific publications. Area of expertise: microwave electronics and microwave technique; computational electrodynamics.</p><p>5, Professor Popov Str., 197376, St. Petersburg, Russia</p></bio><email xlink:type="simple">adgrigoriev@etu.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина)</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Saint Petersburg Electrotechnical University "LETI"</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2018</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>28</day><month>10</month><year>2018</year></pub-date><volume>0</volume><issue>5</issue><fpage>33</fpage><lpage>38</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Григорьев А.Д., 2018</copyright-statement><copyright-year>2018</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Григорьев А.Д.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Grigoriev A.D.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://re.eltech.ru/jour/article/view/257">https://re.eltech.ru/jour/article/view/257</self-uri><abstract><p>Точное знание параметров диэлектрика необходимо при его применении в самых различных устройствах. Несмотря на наличие целого ряда известных методов измерения этих параметров, практическое их применение в микроволновом диапазоне частот наталкивается на ряд трудностей. В данной статье описан новый волноводный метод измерения диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь немагнитных диэлектриков в микроволновом диапазоне. Пластина диэлектрика помещается в короткозамкнутый отрезок волновода перпендикулярно его оси, заполняя все поперечное сечение на расстоянии примерно четверти длины волны от короткозамкнутого конца отрезка. С помощью векторного анализатора цепей измеряется коэффициент отражения от входа волновода. Для определения параметров диэлектрика по этим данным составлена программа вычисления и минимизации целевой функции, которая определяется как разность между вычисленными значениями модуля и фазы коэффициента отражения на входе волновода и измеренными значениями этого коэффициента. Минимизация этой функции при варьировании параметров диэлектрика позволяет определить указанные параметры. По сравнению с известными, представленный в настоящей статье метод не требует переноса плоскостей отсчета векторного анализатора цепей к поверхностям образца и менее чувствителен к шумовой составляющей измерительного сигнала. Это позволяет использовать при измерении некалиброванные коаксиально-волноводные переходы. По результатам тестирования метода погрешность измерения относительной диэлектрической проницаемости не превышает 0,2 %, а тангенса угла диэлектрических потерь – 1 %.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Perfect knowledge of dielectric parameters is necessary for its application in various devices. In spite of the whole range of measurement techniques, their practical implementation in the microwave frequency band runs into some difficulties. This article describes a new method for nonmagnetic dielectrics permittivity and loss tangent measurement in the microwave frequency band. A dielectric specimen slab is placed in the short-circuited waveguide section normal to its axis and fills the whole cross-section of the waveguide at approximately quarter wavelength from its short-circuited endpoint. By means of the vector network analyzer the waveguide section reflection factor is measured. Objective function is de-termined as difference between calculated and measured module and phase of the reflection factor. Specific code for ob-jective function calculation and its minimization is worked out. Minimization of this function by varying dielectric parameters makes it possible to find real values of these parameters. The method needs no de-embedding and can be used with non-calibrated waveguide-to-coax transitions. Also it is less sensitive to the noise component of reflected signal. The testing results show that new method’s error does not exceed 0.2 % for relative permittivity and 1% for dielectric loss tangent.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>параметры диэлектриков</kwd><kwd>микроволны</kwd><kwd>волноводы</kwd><kwd>методы оптимизации</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>dielectric parameters</kwd><kwd>microwaves</kwd><kwd>waveguides</kwd><kwd>optimization methods</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гинзтон Э. Л. Измерения на сантиметровых волнах / под ред. Г. А. Ремеза. М.: Изд-во иностр. лит., 1960. 620 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">E. L. Ginzton. Microwave measurements. N. Y., McGraw-Hill, 1957, 515 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Брандт А. А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. М.: Физматлит, 1963. 403 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Brandt A. A. Issledovanie dielektrikov na sverkhvysokikh chastotakh [Investigation of Dielectrics at Microwave Frequencies]. Moscow, Fizmatlit, 1963, 403 p. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Microwave electronics. Measurement and materials characterization / L. F. Chen, C. K. Ong, C. P. Neo, V. V. Varadan, V. K. Varadan. New York: John Wiley &amp; Sons, 2004. 549 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Chen L. F., Ong C. K., Neo C. P., Varadan V. V., Varadan V. K. Microwave Electronics. Measurement and Materials Characterization. N. Y., John Wiley &amp; Sons, 2004, 549 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">NIST technical notes 1536, Dec. 2006. URL: https://nvlpubs.nist.gov/nistpubs/Legacy/TN/nbstechnic alnote1536.pdf (дата обращения 09.10.2018)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">NIST technical notes 1536, Dec. 2006. Available at: https://nvlpubs.nist.gov/nistpubs/Legacy/TN/nbstechnic alnote1536.pdf (accessed 02.10.2018)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Григорьев А. Д. Измерение электрических параметров карбид-кремниевых поглотителей в микроволновом диапазоне // Материалы Всерос. конф. "Электроника и микроэлектроника СВЧ", Санкт-Петербург, 30 мая – 02 июня 2016 г. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2016. С. 54–58.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Grigor'ev A. D. Izmerenie elektricheskikh parametrov karbid-kremnievykh poglotitelei v mikrovolnovom diapazone [Measurement of Electrical Parameters of Silicon-Carbide Absorbers in the Microwave Range]. Materials of the All-Russian Conference "Electronics and Microelectronics Microwave", 30 may – 02 june 2016, Saint Petersburg. SPb., Izd-vo SPbGETU "LETI", 2016, pp. 54–58. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">R&amp;S®ZVL Vector Network Analyzer Operating Manual. URL: https://www.rohde-schwarz.com/ru/home_48230.html (дата обращения 02.10.2018)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">R&amp;S®ZVL Vector Network Analyzer Operating Manual. Available at: https://www.rohde-schwarz.com/ ru/home_48230.html (accessed 02.10.2018)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Mitchell M. An Introduction to Genetic Algorithms. Cambridge: MIT Press, 1998. 226 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Mitchell M. An Introduction to Genetic Algorithms. Cambridge, MIT Press, 1998, 226 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Григорьев А. Д. Методы вычислительной электродинамики. М.: Физматлит, 2012. 430 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Grigor'ev A. D. Metody vychislitel'noi elektrodinamiki [Methods of Computational Electrodynamics]. Moscow, Fizmatlit, 2012, 430 p. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">URL: https://manualzz.com/doc/9311034/rands®zvl-vector-network-analyzer (дата обращения 02.10.2018)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Available at: https://manualzz.com/doc/9311034/ rands®zvl-vector-network-analyzer (accessed 02.10.2018)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Таблицы физических величин / под ред. акад. И. К. Кикоина. М.: Атомиздат, 1976. 1008 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Tablitsy fizicheskikh velichin [Tables of Physical Values]. Ed. by I. K. Kikoin. Moscow, Atomizdat, 1976, 1008 p. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
