Озеркин Денис Витальевич – кандидат технических наук (2000), доцент (2003) кафедры радиоэлектронных технологий и экологического мониторинга Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР). Автор 50 научных публикаций. Сфера научных интересов – экспериментальные методы и средства исследования технических систем; автоматизированное проектирование радиоэлектронных систем; проектирование термостабильных радиотехнических устройств.
пр. Ленина, д. 40, г. Томск, 634050
Denis V. Ozerkin – Ph.D. in Engineering (2000), Associate Professor (2003) of the Department of Radioelectronic Technologies and Ecological Monitoring of Tomsk State University of Control Systems and Radioelectronics (TUSUR). The author of 50 scientific publications. Area of expertise: experimental methods and means of researching technical systems; computer-aided design of radio electronic systems; design of thermostable radio engineering devices.
40, Lenin Pr., 634050, Tomsk, Russia
Чулков Арсений Олегович – кандидат технических наук (2016), научный сотрудник исследовательской школы физики высокоэнергетических процессов Национального исследовательского Томского политехнического университета. Автор 54 научных публикаций. Сфера научных интересов – разработка методик и аппаратуры для активного теплового неразрушающего контроля композиционных материалов, в частности углеи стеклопластика, используемых в авиакосмической отрасли.
пр. Ленина, д. 30, г. Томск, 634050
Arseniy O. Chulkov – Ph.D. in Engineering (2016), Scientist in research school for physics of high-energy processes of National Research Tomsk Polytechnic University. The author of 54 scientific publications. Area of expertise: developing methods and equipment for active thermal non-destructive testing of composite materials, i.e. coal and fiberglass used in aerospace industry.
30, Lenin Pr., 634050, Tomsk, Russia
Рассмотрен метод термостабилизации выходного напряжения прецизионного источника питания за счет анизотропности теплового поля его конструкции. Показана взаимосвязь схемотехнического и конструкторско-топологического аспектов обеспечения температурной стабильности прецизионного источника питания. В теоретической части исследования введено понятие локальной группы электрорадиоизделий, расположенных на изотермической линии плоскости несущей конструкции. Сформулированы свойства локальных групп и условия обеспечения топологической термокомпенсации. Поставлены две основные прикладные задачи, решение которых обеспечивает термостабилизацию выходных параметров электронных средств методом топологической термокомпенсации с применением регрессионного анализа. В экспериментальной части исследования проведен анализ температурной стабильности выходного напряжения двух конструктивных вариантов прецизионного источника, отличающихся отсутствием и наличием топологической термокомпенсации. Обосновано применение зарубежной элементной базы для целей экспериментальной части исследования. Показано, что математической моделью по обеспечению топологической термокомпенсации для конструктивного варианта с улучшенной температурной стабильностью является уравнение температурной погрешности. Сравнительный анализ двух конструктивных вариантов показал улучшение температурной стабильности выходного напряжения за счет применения топологической термокомпенсации на 8 %. Полученный результат может оказаться удовлетворительным в условиях ограничений в техническом задании на применение иной элементной базы и/или иных методов термостабилизации.
The article considers the method of thermal stabilization for precision power supply output voltage by means of anisotropy of the construction thermal field. Interdependency between schematic and design-topological aspects of precision power supply temperature assurance is shown. In theoretical part of the paper, the concept of electronic component local group arranged on isothermal line of the supporting structure plane is introduced. The local group characteristics and conditions for ensuring topological thermocompensation are formulated. The authors propose the solution for two basic applied problems that provides temperature stabilization of electronic devices output parameters by topological temperature compensation using regression analysis. The experimental part of the paper provides the analysis of the output voltage temperature stability for two design versions which differ by availability of topological thermocompensation. The reason of foreign element base use for the purposes of the experimental part of the study is explained. It is shown that the global mathematical model for providing topological thermocompensation for a design option with improved temperature stability is the temperature error equation. A comparative analysis of the two construction options shows 8 % improvement of output voltage temperature stability due to topological thermocompensation. The obtained result may prove to be satisfactory under technical assignment for the use of a different element base and / or other methods of thermal stabilization.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.