radioelectronicsИзвестия высших учебных заведений России. РадиоэлектроникаJournal of the Russian Universities. Radioelectronics1993-89852658-4794Saint Petersburg Electrotechnical Universityradioelectronics-186Research ArticleЭЛЕКТРОНИКА СВЧMICROWAVE ELECTRONICSСинтез, микроструктура и магнитные свойства магнитомягких пленок СоРSynthesis, Microstructure and Magnetic Properties of Soft Magnetic CoP FilmsПодорожнякС. А.PodorozhnyakS. A.

магистр (2012) по направлению "Проектирование и технология электронных средств", ассистент кафедры приборостроения и наноэлектроники Института инженерной фи­ зики и радиоэлектроники

Master of Science in Design and Technology of Electronic Facilities (2012), Teaching Assistant for the Department of Instrument Engineering and Nano Electronics of School of Engineering Physics and Radio Electronics

srodinger@mail.ruРыженковА. В.RyzhenkovA. V.

магистр (2012) по направлению "Проектирование и технология электронных средств", ассистент кафедры приборостроения и наноэлектроники Института инженерной фи­ зики и радиоэлектроники

Master of Science in Electronics and Microelectronics (2011), postgraduate student of the Department of Instrument Engineering and Nano Electronics of School of Engineering Physics and Radio Electronics

ilansky@mail.ruПатрушеваТ. Н.PatrushevaT. N.

доктор технических наук (2006), доцент (2000), кафедры приборо­ строения и наноэлектроники Института инженерной физики и радиоэлектроники

D.Sc. in Engineering (2006), Associate Professor (2000), Professor of the Department of Instrument Engineering and Nano Electronics of School of Engineering Physics and Radio Electronics

pat55@mail.ruВолочаевМ. Н.VolochaevM. N.

аспирант кафедры технической физики института космических ис­ следований и высоких технологий

graduated engineer in automatic control systems (2014, Institute of Space Research and High Technologies named after academician M. E. Reshetnikov

Volochaev91@mail.ruЧжанА. В.ChzhanA. V.

доктор физико-математических наук (2014), доцент (2002), заведую­ щий кафедрой физики Института инженерных систем и энергетики

D.Sc. in Physics and Mathematics (2014), Associate Professor (2002), Chief of the Department of Physics of Institute of Engineering Systems and Energy of Krasnoyarsk State Agrarian University, Professor of the Department of Experimental Physics and Innovation Technologies of School of Engineering Physics and Radio Electronics of Siberian Federal University

avchz@mail.ruСибирский федеральный университетРоссияSiberian Federal University (Krasnoyarsk)Russian FederationСибирский государственный университет науки и технологии им. М. Ф. РешетневаРоссияSiberian State University of Science and Technology (Krasnoyarsk)Russian FederationКрасноярский государственный аграрный университетРоссияKrasnoyarsk State Agrarian UniversityRussian Federation201728082017045660Copyright © Подорожняк С.А., Рыженков А.В., Патрушева Т.Н., Волочаев М.Н., Чжан А.В., 20172017Подорожняк С.А., Рыженков А.В., Патрушева Т.Н., Волочаев М.Н., Чжан А.В.Podorozhnyak S.A., Ryzhenkov A.V., Patrusheva T.N., Volochaev M.N., Chzhan A.V.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://re.eltech.ru/jour/article/view/186

Приведены результаты исследования свойств магнитомягких тонких пленок СоР, полученных методом химической металлизации из водного раствора на основе цитратных комплексов с применением в качестве щелочного реагента NaOH. С помощью вариации составов рабочих растворов получены оптимальные значения магнитных параметров пленок: намагниченности насыщения и ширины линии ферромагнитного резонанса.

Soft magnetic thin CoP films were obtained by means of chemical metallization from aqueous cobalt salt solution in the presence of sodium hydroxide, citric acid and sodium hypophosphite as the reducing agent. The optimal values of the magnetic film parameters (saturation magnetization and width of ferromagnetic resonance line) were obtained by variation of composition of work solutions. It allows to reduce losses in their application in microwave devices. Microphotographs of magnetic film indicate a grain structure with a grain size of about 50 nm and presence of inclusions with the size of 3-5 nm. To determine the magnetic parameters of the investigated films the method of ferromagnetic resonance (FMR) absorption curves processing is used. The values of FMR line width and an effective magnetization of film material saturation were obtained.

Тонкие магнитные пленкихимическое осаждениеФМРCoPThin Magnetic FilmCoPChemical DepositionFerromagnetic ResonanceReferencesСинтез и исследование магнитных характеристик нанокристаллических пленок кобальта / Б. А. Беляев, А. В. Изотов, С. Я. Кипарисов, Г. В. Скоморохов // Физика твердого тела. 2008. Т. 50, № 4. С. 650-656.Belyaev B. A., Izotov A. V., Kiparisov S. J., Skomorokhov G. V. Synthesis and Study of Magnetic Properties of Nanocrystalline Cobalt Films. Fizika tverdogo tela [Solid State Physics]. 2008, vol. 50, no. 4, pp. 650-656. (In Russian)Brenner A., Riddell G. Deposition of Nickel and Cobalt by Chemical Reduction // J. Res. Nat. Bur. Std. 1947. Vol. 39. P. 385-395.Brenner A., Riddell G. Deposition of Nickel and Cobalt by Chemical Reduction. J. Res. Nat. Bur. Std. 1947, vol. 39, pp. 385-395.Glenn O. M., Juan B. H. Electroless Plating: Fundamentals and Applications. Noyes Publ.: Norwich, 1990. 401 p.Glenn O. M., Juan B. H. Electroless Plating: Fundamentals and Applications. Noyes Publ.: Norwich, 1990, 401 p.Магнитные свойства трехслойных пленок на основе CoP / А. В. Чжан, С. Я. Кипарисов, В. А. Середкин, Г. С. Патрин, М. Г. Пальчик // Изв. РАН. Сер. физическая. 2009. Т. 73, № 8. С. 1222-1224.Chzhang A. V., Kiparisov S. J., Seredkin V. A., Patrin G. S., Palchik M. G. Magnetic Properties of Three-Layer Films Based on Co-P. Izvestiya Rossiiskoi akademii nauk. Seriya Fizicheskaya [Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics]. 2009, vol. 73, no. 8, pp. 1222-1224. (In Russian)Влияние щелочных реагентов на кристаллическую структуру пленок CoP, полученных химическим осаждением / А. В. Чжан, Т. Н. Патрушева, С. А. Подорожняк, В. П. Середкин, Г. Н. Бондаренко // Изв. РАН. Сер. физическая. 2016. Т. 80, № 6. С. 762-765.Chzhan A. V., Patrusheva T. N., Podorozhnyak S. A., Seredkin V. P., Bondarenko G. N. Effect of Alkali Reagents on the Crystal Structure of Chemically Deposited Co-P Films. Izvestiya Rossiiskoi akademii nauk. Seriya Fizicheskaya [Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics]. 2016, vol. 80, no. 6, pp. 762-765. (In Russian)Belyaev B. A., Izotov A. V., Leksikov A. A. Magnetic Imaging in Thin Magnetic Films by Local Spectrometer of Ferromagnetic Resonance // IEEE Sensors J. 2005. Vol. 5, № 2. P. 260-267.Belyaev B. A., Izotov A. V., Leksikov A. A. Magnetic Imaging in Thin Magnetic Films by Local Spectrometer of Ferromagnetic Resonance. IEEE Sensors J. 2005, vol. 5, no. 2, pp. 260-267.Macdonald J. R. Stress in Evaporated Ferromagnetic Film // Phys. Rev. 1957. Vol. 106, № 5. P. 890-892.Macdonald J. R. Stress in Evaporated Ferromagnetic Film. Phys. Rev. 1957, vol. 106, no. 5, pp. 890-892.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.