<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">radioelectronics</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Известия высших учебных заведений России. Радиоэлектроника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Journal of the Russian Universities. Radioelectronics</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1993-8985</issn><issn pub-type="epub">2658-4794</issn><publisher><publisher-name>Saint Petersburg Electrotechnical University</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">radioelectronics-157</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭЛЕКТРОНИКА СВЧ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>MICROWAVE ELECTRONICS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Теоретические основы построения имитатора-анализатора усилителей и автогенераторов СВЧ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Theoretical basis of simulator-analyzer building-up for microwave amplifiers and oscillators</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Савелькаев</surname><given-names>С. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Savelkaev</surname><given-names>S. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>д. т. и., доцент, профессор кафедры специальных уст­ройств и технологий</p></bio><bio xml:lang="en"><p>D.Sc. in engineering, Associate Professor, professor of the Department of Special Devices and Technologies</p></bio><email xlink:type="simple">sergei.savelkaev@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ромасько</surname><given-names>С. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Romasko</surname><given-names>S. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>аспирантка и ассистент кафедры метрологии и технологии оптиче­ского производства,</p><p>инженер-метролог</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Dipl.-engineer on metrology,</p><p>post graduate student and teaching assistant of the Department of Metrology and Optics Engineering</p></bio><email xlink:type="simple">s_romasko@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Литовченко</surname><given-names>В. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Litovchenko</surname><given-names>V. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>менеджер по управлению персоналом,</p><p>начальник учебной лаборатории кафедры разведки и воздушной десантной подго­товки Новосибирского высшего военного командного училища,</p><p>аспирант кафедры метрологии и технологии оптического производства</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Manager on human resources,</p><p>Chief of the Laboratory of the Department of Intelligence and Airborne Training of the Novosibirsk Higher Military Command School,</p><p>post graduate student o f the Department of Optics Engineering</p></bio><email xlink:type="simple">litovchienko.vladimir@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Заржецкая</surname><given-names>Н. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Zarzhetskaya</surname><given-names>N. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>инженер-системотехник,</p><p>старший преподаватель кафедры специальных устройств и технологий,</p><p>аспирант кафедры метро­ логии и технологии оптического производства</p></bio><bio xml:lang="en"><p>System Engineer,</p><p>Senior Tutor of the Department of Special Devices and Technologies,</p><p>post graduate student of the Department of Metrology and Technologies of Optical Production</p></bio><email xlink:type="simple">zarjetskaya@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Сибирский государственный университет геосистем и технологий (Новосибирск)</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Siberian State University of Geosystems and Technology (Novosibirsk)</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2017</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>28</day><month>02</month><year>2017</year></pub-date><volume>0</volume><issue>1</issue><fpage>63</fpage><lpage>73</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Савелькаев С.В., Ромасько С.В., Литовченко В.А., Заржецкая Н.В., 2017</copyright-statement><copyright-year>2017</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Савелькаев С.В., Ромасько С.В., Литовченко В.А., Заржецкая Н.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Savelkaev S.V., Romasko S.V., Litovchenko V.A., Zarzhetskaya N.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://re.eltech.ru/jour/article/view/157">https://re.eltech.ru/jour/article/view/157</self-uri><abstract><p>Предложен принцип построения имитатора-анализатора, обеспечивающего имитационное моделирование усилителей и автогенераторов СВЧ в коаксиальном измерительном тракте в соответствии с техническим заданием с последующим измерением комплексных коэффициентов отражения нагрузок активного компонента этих устройств для дальнейшего их проектирования в микрополосковом исполнении. Сформирована математическая модель имитатора-анализатора, а также математическая модель его калибровки. Рассмотрен метод анализа устойчивости активного компонента в пространстве комплексных коэффициентов отражения его нагрузок, облегчающий выбор этих нагрузок и активного компонента при имитационном моделировании усилителей и автогенераторов. Дополнительно рассмотрена возможность использования имитатора-анализатора для измерения комплексных коэффициентов отражения на входе и выходе нагруженного активного компонента, а также измерения его комплексных коэффициентов передачи, которые совместно с измеренными комплексными коэффициентами отражения нагрузок позволяют по предложенной методике определить S-параметры анализируемого компонента, которые он будет иметь при включении в микрополосковую линию.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The construction principle of simulator-analyzer is proposed providing simulation modeling of amplifiers and oscillators in coaxial microwave measurement chain according to their technical specifications, followed by measurement of complex load reflection coefficients of the active component of the devices for their further development in microstrip design. Mathematic model of simulator-analyzer as well as mathematic model of its calibration is presented. Analysis method of active component stability in the area of its complex load reflection coefficients is considered that facilitates the choice of the loads and the most active component in simulation of amplifiers and oscillators. In addition, the possibility of using the simulator-analyzer for measuring complex reflection coefficients at the input and the output of the loaded active component is described, as well as measurement of its complex transmission coefficients which together with the measured complex load reflection coefficients allow to determine S-parameters of the analyzed component it will have when included in a micro strip line.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>Имитатор-анализатор</kwd><kwd>математическая модель</kwd><kwd>калибровка</kwd><kwd>комплексный коэффициент отражения и передачи</kwd><kwd>метод анализа устойчивости</kwd><kwd>методика определения S-параметров</kwd><kwd>методика переноса результатов измерения из коаксиального тракта в микрополосковый</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>Simulator</kwd><kwd>Analyzer</kwd><kwd>Mathematic Model</kwd><kwd>Calibration</kwd><kwd>Complex Reflection Coefficient and Transmission</kwd><kwd>Analysis method of active component stability</kwd><kwd>Method of S-Parameters Determining</kwd><kwd>Method of Transfer of the Measurement Results from the Coaxial Line to the Micro Strip</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Полупроводниковые входные устройства СВЧ: в 2 т. / под ред. В. С. Эткина. М.: Сов. радио, 1975. Т. 1. 344 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Etkina V. S. Poluprovodnicovye vkhodnye ustroistva [UHF Semiconductor Input Devises]. Moscow, Sov. radio Publ. 1975, vol. 1, 344 p. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Савелькаев С. В., Заржецкая Н. В. Расчет и проектирование автогенераторов СВЧ в пространстве S-параметров // Изв. вузов России. Радиоэлектроника. 2016. Вып. 1. С. 30-37.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Savelkaev S. V., Zarzhetskaja N. V. Calculation and Design of UHF Oscillators in the Space of S-Parameters. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii Rossii. Radioelektronika. 2016, no. 1, pp. 30-37. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Савелькаев С. В. Двухсигнальный метод измерения S-параметров активных СВЧ-цепей в режиме большого сигнала // Электрон. техника. Сер. Электроника СВЧ. 1991. Вып. 5(439). С. 30-32.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Savelkaev S. V. Two signal method of measuring of S-parameters of active UHF circuits in large-signal mode. Electronnaja tehnika. Ser. Electronika SVCH. 1991, no. 5(439), pp. 30-32. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Савелькаев С. В. Методы анализа устойчивости активных СВЧ-цепей и измерения их S-параметров // Метрология. 2005. № 4. С. 19-28.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Savelkaev S. V. Methods of stability analysis of active UHF circuits and measure their S-parameters. Metrologiya. 2005, no. 4, pp. 19-28. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Савелькаев С. В. Коаксиальное контактное устройство // Измерительная техника. 2005. № 5. С. 65-68.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Savelkaev S. V. Koaksalnoe kontaktnoe uctroistvo [Coaxial contact device]. Izmeritelnaya tekhnika. 2005, no. 5, pp. 65-68. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">А. с. SU 1774286 A1. МПК5 G01R27/28. Способ калибровки коаксиального контактного устройства / С. В. Савелькаев. Опубл. 07.11.1992. Бюл. № 41.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Savelkaev S. V. Sposob kalibrovki koaksialnogo kontaktnogo ustroystva [A method of calibrating of the coaxial contact device]. Pat. SU, no. 1774286, 1992. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Савелькаев С. В. Теоретические основы построения двухсигнальных анализаторов СВЧ-цепей // Измерительная техника. 2005. № 3. С. 41-46.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Savelkaev S. V. Theoretical basics of building of two signals UHF circuits analyzers. Izmeritelnaya tekhnika. 2005, no. 3, pp. 41-46. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Савелькаев С. В. Вариационная методика оценки суммарной погрешности измерения анализаторов СВЧ-цепей // Измерительная техника. 2008. № 12. С. 43-46.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Savelkaev S. V. A variation method of estimating the total error of measurement of the UHF circuits analyzers. Izmeritelnaya tekhnika. 2008, no. 12, pp. 43-46. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
